X射線熒光光譜儀維修工作原理及維修保養(yǎng)

X射線熒光光譜儀維修工作原理及維修保養(yǎng)

X射線熒光光譜儀的工作原理

　　X射線熒光分析技術作為一種快速分析手段，為我國的相關生產企業(yè)提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的***途徑；相對于其他分析方法，XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關生產企業(yè)作為過程控制和檢測使用。

　　X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F～U之間***元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。

　　X射線熒光光譜儀的工作原理：

　　X射線是用高速電子轟擊原子的內層電子，使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時外層的電子躍遷到缺少電子的內層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長小，肉眼不可見，稱之為X射線。

　　X射線熒光的波長是以受激物質的原子序數為特征的，原子序數越大的物質波長越短。***不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長，這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進行定性分析的依據;而元素受激發(fā)射出來的特征X射線熒光的強度則取決于該元素的含量，這是定量分析的依據。

　　X射線熒光光譜儀的主要組成部分是***X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器。***X射線源用X光管，它產生的***X射線轟擊樣品表面，使樣品激發(fā)出二次X射線。二次X射線經平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過程中是回轉的，即θ是連續(xù)變化的，θ的變化會使反射光的波長隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據。這種變化波長的反射線投射到與分光晶體聯(lián)動的檢測器上，檢測器便輸出一個與平面分光晶體反射線強度成比例的信號，它是定量分析的依據。記錄顯示儀表的記錄紙移動的距離與2θ有關，所以記錄下來的曲線就是熒光光譜圖，其橫坐標是波長，縱坐標是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結果。

X射線熒光光譜儀 X射線熒光光譜儀的工作原理_X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)

　　X射線熒光分析技術作為一種快速分析手段，為相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的***途徑。相對于其他分析方法，XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關部門作為過程控制和檢測使用。

　　X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)：

　　1、X射線熒光光譜儀中***昂貴的部分是高壓 X射線光管，它是儀器的核心部件。X射線光管對冷卻水的溫度、壓力、電導率都有嚴格的要求，其***佳冷卻水溫為 22℃～24℃，一般不能***過 30℃，***過 35℃則使用壽命會大大降低。內部循環(huán)水用于冷卻陽極靶附近的光管頭部分，因此要求內部循環(huán)水為電導率很低的去離子水，以防高壓擊穿導致 x射線光管損壞。

　　2、分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。影響分光晶體穩(wěn)定性的因素有：溫度、濕度、酸堿度等。

　　3、探測器性能一般用波高分布曲線的半寬高來衡量，若半寬高增大則說明分辨能力下降，檢測器品質變壞。

　　4、真空系統(tǒng)是X射線熒光光譜儀的重要組成部分。對于真空泵，主要是應該定期檢查真空泵油的油質和油量，檢查油質時如果有白色或黑色，就說明油質不正常，應該立即更換泵油。

　　 射線熒光光譜儀結構復雜，部件眾多，涉及光譜、化學、機械、電控等各個方面，所以，對 X 射線熒光光譜儀的維護和保養(yǎng)需要具備各方面的知識，因此需要我們在工作中不斷學習，充實知識，總結經驗，使X射線熒光光譜儀在使用時能夠發(fā)揮出***大的效能。

X射線熒光光譜儀 X射線熒光光譜儀 X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)_X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀的優(yōu)點

　　X射線熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的***種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。

　　X射線熒光光譜儀的優(yōu)點都有那些？

　　1.分析速度高。測定用時與測定***密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2.X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。但是在高分辨率的***密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在***軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

　　3.非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

　　5.X射線熒光光譜儀分析***密度高。

　　6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

X射線熒光光譜儀 X射線熒光光譜儀的優(yōu)點_X射線熒光光譜儀